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Determinación de las características térmicas de los dispositivos microelectrónicos

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FLIR Systems informa de cómo los investigadores del Laboratorio de Termofísica en Microescala de la Universidad de Texas (Arlington, EE.UU.) están utilizando las cámaras térmicas FLIR para medir la disipación de calor en circuitos integrados tridimensionales (CI).

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El Laboratorio de Termofísica a Microescala lleva a cabo investigaciones sobre transporte térmico a microescala, sistemas de conversión de energía, gestión térmica de semiconductores, transferencia de calor biológico y temas relacionados. La disipación de calor en los circuitos integrados tridimensionales (CI) es un reto tecnológico importante, y ha impedido la adopción generalizada de esta tecnología a pesar de la enorme cantidad de investigaciones realizadas en las últimas dos décadas.

Para medir la temperatura en dispositivos microelectrónicos, los investigadores del Laboratorio de Termofísica de Microescala han utilizado tradicionalmente una amplia variedad de técnicas, incluyendo termopares. Un reto principal con esta técnica es que los termopares sólo miden los valores de temperatura en un solo punto. Para obtener una imagen más completa y visual del campo de temperatura, el equipo decidió utilizar cámaras de imágenes térmicas de FLIR. Diseñada para aplicaciones que incluyen la inspección electrónica, la cámara de imágenes térmicas FLIR serie A6700 ha demostrado ser ideal para capturar eventos térmicos de alta velocidad y objetivos de movimiento rápido. Los cortos tiempos de exposición han permitido a los usuarios congelar el movimiento y lograr mediciones de temperatura precisas. La salida de imágenes de la cámara se puede ampliar para aumentar la velocidad de fotogramas a 480 fotogramas por segundo, lo que ha permitido a los investigadores caracterizar con precisión incluso eventos térmicos de mayor velocidad, ayudando a asegurar que los datos críticos no se pierdan durante las pruebas.

El jefe del grupo de investigación del Laboratorio de Termofísica a Microescala, el Dr. Ankur Jain, dijo que "los fenómenos térmicos en dispositivos de interés para nosotros ocurren muy rápidamente, y necesitamos información completa de campo en lugar de mediciones de punto único". Añadió: "El FLIR A6703sc nos ha ayudado durante nuestros experimentos, porque la cámara nos presenta detalles muy finos del dispositivo que se está midiendo"

Para más información sobre la serie de cámaras térmicas FLIR A6700sc, visite https://www.flir.com/products/a6700-mwir/ o póngase en contacto con FLIR Systems en el teléfono +32-3665-5100 / research@flir.com

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