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Demostración práctica de CIQTEK FIB SEM - Preparación de muestras de nanomicropilares
Demostración práctica de CIQTEK FIB SEM - Preparación de muestras de nanomicropilares
Se ha logrado con éxito la preparación de muestras nanomicropilares, lo que demuestra las potentes capacidades del microscopio electrónico de barrido con haz de iones focalizado CIQTEK en el procesamiento y análisis a nanoescala. El rendimiento del producto proporciona un apoyo preciso, eficiente y multimodal a los clientes que realizan ensayos nanomecánicos, lo que facilita los avances en la investigación de materiales.