{{{sourceTextContent.title}}}

Demostración práctica de CIQTEK FIB SEM - Preparación de muestras de nanomicropilares

{{{sourceTextContent.subTitle}}}

Demostración práctica de CIQTEK FIB SEM - Preparación de muestras de nanomicropilares

{{{sourceTextContent.description}}}

Se ha logrado con éxito la preparación de muestras nanomicropilares, lo que demuestra las potentes capacidades del microscopio electrónico de barrido con haz de iones focalizado CIQTEK en el procesamiento y análisis a nanoescala. El rendimiento del producto proporciona un apoyo preciso, eficiente y multimodal a los clientes que realizan ensayos nanomecánicos, lo que facilita los avances en la investigación de materiales.