El microscopio electrónico de barrido CIQTEK facilita la mejora de la calidad del "súper nanorecubrimiento"

El microscopio electrónico de barrido CIQTEK facilita la mejora de la calidad del "súper nanorecubrimiento"

Presentamos CIQTEK filamento de tungsteno Senlatado Eelectrón Microscopio SEM3200 proporciona a los investigadores imágenes claras a nanoescala, lo que les permite examinar visualmente la microestructura y la morfología de las capas de recubrimiento. Además, el espectrómetro de dispersión de energía (EDS) equipado permite un análisis preciso de la composición del material y la distribución de elementos, guiando eficazmente la optimización de procesos en investigación y desarrollo.