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Revolucionar las pruebas de incineración

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Solución sin horno y de bajo consumo energético de Microtest

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En el ecosistema de los semiconductores, el proceso de Burn-In de semiconductores es uno de los procedimientos más delicados y sensibles, ya que ayuda a prevenir los defectos inherentes, comúnmente reconocidos en electrónica y descritos por la llamada curva de la bañera. Esta curva ilustra la tasa de defectos a lo largo del ciclo de vida de un componente. Dada la aparición natural de fallos de mortalidad infantil en los componentes, el procedimiento de prueba Burn-In tiene como objetivo identificar aquellos componentes que presentan fallos prematuros y que, por tanto, deben ser interceptados y descartados. Si estos componentes defectuosos salen al mercado, podrían causar graves fallos de funcionamiento y, potencialmente, daños personales o materiales.
El sistema Burn-In desarrollado por Microtest es revolucionario porque no requiere horno, lo que introduce una innovación disruptiva y mejoras significativas con respecto a los sistemas tradicionales utilizados para microcontroladores.