FARO lanza el FARO Edge ScanArm HD de alta velocidad, mayor definición y claridad en la toma de datos!

El Edge ScanArm HD ofrece una rápida recopilación de nubes de puntos con una resolución extrema y una precisión elevada; todo en un sistema compacto y fácil de usar. Las nuevas funciones permiten a los usuarios escanear sin problema una amplia gama de materiales independiente del color, la reflectividad o complejidad de la pieza sin necesidad de aplicación de sprays o la colocación de pegatinas de fotogrametría.

"El Edge Laser Line Probe HD ha sido desarrollado para marcar un nuevo estándar en la tecnología de escaneado láser 3D. Estamos muy centrados en las necesidades prácticas de los clientes y confiamos en superar sus expectativas", declaraba Kathleen J. Hall, vicepresidenta senior y directora ejecutiva para América. "El Edge ScanArm HD genera datos de alta definición con una velocidad y cobertura de superficie superiores a un precio asequible, lo que permite a nuestros clientes reducir los tiempos de medición in situ, escanear materiales muy complejos y mejorar considerablemente sus productos y procesos".

El aumento de anchura de línea de escaneo y la alta velocidad impulsan la productividad aumentando la cobertura y reduciendo el tiempo de escaneado. Los componentes más complejos se pueden capturar al detalle gracias a los 2.000 puntos reales por línea de escaneo y el nuevo láser azul con tecnología de reducción del ruido. Los usuarios pueden reducir en gran medida el tiempo de formación necesario gracias a la nueva opción de mira y a la función de telémetro LED existente que brinda información del escaneado en tiempo real.

El FARO Edge ScanArm HD es la herramienta ideal para el desarrollo de productos, inspección y control de calidad, y ofrece funciones como la comparación de nubes de puntos con CAD, la creación rápida de prototipos, la ingeniería inversa y el modelado 3D.

Combinado con el software integral de metrología CAM2 Measure 10, FARO facilita a los clientes una solución única para la medición con y sin contacto, perfectamente adaptada a los retos metrológicos de una amplia gama de aplicaciones.