{{{sourceTextContent.title}}}

Hitachi High-Tech Analytical Science lanza el nuevo analizador de recubrimientos FT160 XRF

{{{sourceTextContent.subTitle}}}

El nuevo analizador FT160 XRF con tres opciones de configuración básica para el análisis de recubrimientos en escala nanométrica.

{{{sourceTextContent.description}}}

Tras la introducción de la nueva serie FT160 en Japón, Hitachi High-Tech Analytical Science ahora vende y presta servicios a los analizadores de revestimientos de la serie FT160 en China, América del Norte, Europa, Oriente Medio y África. Esta última generación de analizadores de revestimientos de Hitachi ha sido diseñada para afrontar los desafíos de la medición de revestimientos ultrafinos en características pequeñas. El FT160 es un analizador EDXRF (fluorescencia de rayos X dispersiva de energía) de sobremesa con un potente software y hardware creado para ofrecer un alto rendimiento de muestras con resultados de calidad alcanzados por cualquier operador. Diseñada para desempeñar un papel clave en el control de calidad de la producción, la serie FT160 mide una amplia gama de aplicaciones en los mercados de semiconductores, placas de circuitos y componentes electrónicos.

Medir las capas de escala nm

El FT160 cuenta con componentes de alta gama para proporcionar el último análisis de los revestimientos ultrafinos en estructuras finas. Una óptica policapilar enfoca el haz de rayos X hasta un diámetro de <20 µm, enfocando más intensidad en la muestra y midiendo características más pequeñas de lo que es posible con la colimación tradicional. Un detector de deriva de silicio de alta sensibilidad y resolución Hitachi High-Tech (SDD) aprovecha al máximo la óptica para medir los revestimientos en escala nm en la microelectrónica y los semiconductores. Una platina de alta precisión y una cámara de alta definición con zoom digital permiten un rápido posicionamiento de las características de la muestra para mejorar el rendimiento de la misma.

Matt Kreiner, Director de Producto de Hitachi High-Tech Analytical Science, dijo: "El FT160 se basa en el éxito de sus predecesores y proporciona una disposición de iluminación rediseñada para una mejor visibilidad y posicionamiento de las piezas, nuevas opciones de configuración para garantizar un rendimiento optimizado para aplicaciones específicas y un nuevo factor de configuración de base compacto para laboratorios de pruebas muy ocupados". La continua evolución del hardware y de las capacidades analíticas de esta línea de productos hace que sea más fácil que nunca para nuestros clientes controlar la producción en el panorama de la microelectrónica, que evoluciona rápidamente. El FT160 complementa nuestra completa línea de instrumentos de revestimientos, resultado de más de 45 años de experiencia en el desarrollo de analizadores de revestimientos de XRF"