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Presentación de los SEM SU3800SE y SU3900SE de Hitachi: Simplificación de la microscopía con un funcionamiento sencillo y automático

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Descubra cómo los nuevos SEM SU3800SE y SU3900SE de Hitachi simplifican la microscopía con la automatización, la manipulación de muestras de mayor tamaño y la obtención de imágenes de alta resolución para aplicaciones industriales y de investigación.

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Hitachi High-Tech ha lanzado recientemente los microscopios electrónicos de barrido (SEM) SU3800SE y SU3900SE. Se basan en los instrumentos SU3800 y SU3900, de eficacia probada, y ahora ofrecen un instrumento optimizado para las necesidades de la aplicación en 2 tamaños de cámara de muestras y la posibilidad de elegir entre un emisor de campo térmico de tungsteno o Schottky.

Los nuevos y avanzados instrumentos de óptica de emisión de campo mejorarán significativamente la investigación científica y las aplicaciones industriales. Centrados en la productividad, los SU3800SE y SU3900SE automatizan la alineación de ópticas críticas y las tareas operativas repetitivas, para que pueda obtener resultados reproducibles en poco tiempo y con escaso esfuerzo manual.

Dado que la demanda de imágenes de alta resolución sigue creciendo en diversos sectores, como la nanotecnología y el control de calidad industrial, estos nuevos modelos permitirán a los investigadores y fabricantes obtener mayores conocimientos y mejoras en el análisis de materiales.

Con estos avances, Hitachi High-Tech reafirma su compromiso de apoyar los descubrimientos innovadores y mejorar la calidad de los productos en múltiples campos.

La necesidad de microscopía avanzada

La microscopía electrónica de barrido se ha convertido en una herramienta indispensable en la investigación de materiales y el control de la producción. Esta técnica permite obtener imágenes de alta resolución de la topografía superficial y la composición de muestras a granel o de partículas / filtros.

Pero la creciente demanda de técnicas avanzadas de microscopía ha creado la necesidad de instrumentos más sofisticados. Estos instrumentos deben ser capaces de manipular muestras más grandes y pesadas, manteniendo al mismo tiempo una calidad de imagen y una facilidad de uso excepcionales.

La capacidad de muchos de los microscopios electrónicos de barrido actuales para procesar muestras grandes y pesadas es limitada. A menudo necesitan una preparación adicional de la muestra, como el corte, que no es ni deseable ni factible. Además, el creciente uso de los SEM para controlar las microestructuras con el fin de mejorar la funcionalidad y el rendimiento de los materiales, así como para analizar materias extrañas, fallos y defectos con el fin de mejorar la calidad de los productos, ha puesto de manifiesto la necesidad de herramientas más versátiles.

La integración de la espectroscopia de dispersión de energía de rayos X (EDS) y la difracción de electrones retrodispersados (EBSD) ayuda a los usuarios a realizar análisis completos de materiales, desde la cartografía de la composición elemental con EDS hasta los estudios de orientación cristalográfica con EBSD. La creciente demanda de estas funciones subraya la necesidad de SEM que puedan manejar eficazmente muestras industriales complejas a gran escala, como componentes de vehículos, al tiempo que proporcionan imágenes de alta resolución y una adquisición de datos fiable.

Principales ventajas de los modelos Hitachi SU3800SE y SU3900SE

Los SEM SU3800SE y SU3900SE de Hitachi High-Tech abordan los retos mencionados. Incorporan una serie de funciones y ventajas que le harán la vida más fácil.

1. Capacidad de manipulación de muestras grandes, pesadas o múltiples

Una de las características más destacadas del SU3800SE, y especialmente del SU3900SE, es su capacidad para manipular muestras a granel de mayor tamaño en sus platinas eucéntricas de 5 ejes. El SU3900SE puede manipular muestras de hasta 300 mm de diámetro, 130 mm de altura y 5 kg de peso, con los 5 ejes de la platina disponibles. Esta capacidad reduce o elimina la necesidad de recortar las muestras más grandes y aumenta la productividad al permitir la carga de varias muestras a la vez para su análisis secuencial.

2. Navegación de muestras segura y sin esfuerzo

Estos nuevos SEM también incorporan un avanzado sistema de navegación por cámara óptica que cubre toda la gama de movimientos X,Y de la platina, lo que permite localizar y acceder fácilmente a posiciones específicas de las muestras con un simple clic del ratón en la posición deseada. La cámara óptica sigue incluso la rotación de la platina, lo que convierte la navegación de muestras en una experiencia fluida, ideal para usuarios que necesitan realizar análisis complejos y detallados.

Otro aspecto destacado es el modelo de colisión de la muestra y la platina aplicado automáticamente, que proporciona la certeza absoluta de que cualquier movimiento disponible de la platina no supondrá ningún riesgo. Esto le permite aprovechar toda la capacidad del SEM, por ejemplo, la distancia de trabajo más corta para obtener la resolución más alta puede establecerse sin ninguna duda.

3. El mejor rendimiento del sistema alcanzable de forma rutinaria

El SU3800SE / SU3900SE incorpora funciones automáticas rápidas, modulares, fiables y precisas para la alineación de la óptica electrónica, el enfoque, la antiestigmación y los ajustes de brillo y contraste. Además de la biblioteca de recetas de condiciones de observación definibles por el usuario, estas funciones garantizan a los usuarios con diferentes habilidades la obtención constante de imágenes de alta calidad, gracias a la tecnología de detección y óptica electrónica de alto rendimiento.

4. Creador de flujo EM

La repetición de las tareas rutinarias de inspección no debe atar al operador al SEM. Los SU3800SE / SU3900SE ofrecen la función opcional EM Flow Creator, que permite configurar flujos de trabajo complejos sin necesidad de conocimientos de programación o codificación. EM Flow Creator lo hace alineando bloques de funciones definidos gráficamente, como el aumento, la posición de la platina, funciones de ajuste de la imagen como el enfoque y el contraste, y los combina con funciones como eventos de toma de decisiones, bucles de repetición, coincidencia de patrones, etc. Una vez configuradas, estas recetas pueden ejecutarse automáticamente, lo que reduce la carga de trabajo y garantiza resultados uniformes y de alta calidad en todo momento.

En resumen: Estas ventajas le permiten centrarse en su investigación, mientras que el microscopio se encarga de las tareas complejas. Estos SEM automatizan los procesos y garantizan resultados precisos y de alta calidad con una intervención manual mínima por su parte.

Aplicaciones e impacto en diversos campos

La introducción de los SU3800SE y SU3900SE de Hitachi marca un salto en la tecnología de microscopía, con aplicaciones de amplio alcance en múltiples campos.

Nanotecnología

En nanotecnología, donde la precisión a escala nanométrica es primordial, estos nuevos SEM ayudan a los investigadores a observar y analizar las nanoestructuras con notable detalle. Las funciones de imagen de alta resolución permiten caracterizar los nanomateriales y explorar sus propiedades únicas y sus posibles aplicaciones en electrónica, medicina y ciencia de materiales.

Control de calidad industrial

Para aplicaciones industriales, especialmente en el control de calidad, estos SEM avanzados permiten a los fabricantes realizar inspecciones minuciosas de materiales y componentes. Mediante la identificación de defectos y el análisis de microestructuras, las empresas pueden mejorar la calidad y el rendimiento de los productos, reduciendo los residuos y aumentando la eficiencia.

El diseño de los modelos SU3800SE y SU3900SE admite muestras de mayor tamaño y ofrece imágenes de alta calidad de muestras conductoras y (aplicando el modo de presión de cámara variable suministrado de serie) de muestras no conductoras. De este modo, se obtiene un análisis completo de materiales industriales, como metales, materiales compuestos y piezas de vehículos, sin necesidad de procesamiento adicional.

Ciencia de los materiales

En la ciencia de los materiales, los nuevos modelos apoyan la investigación crítica en la comprensión de las propiedades y comportamientos de diversos materiales. Sus capacidades mejoradas de imagen permiten examinar la topografía y la composición de las superficies, lo que proporciona información que impulsa la innovación en el desarrollo de materiales. Esto es especialmente importante en el desarrollo de materiales avanzados para las industrias aeroespacial, automovilística y electrónica, donde el rendimiento y la fiabilidad son esenciales.

Conclusión
Los microscopios electrónicos de barrido SU3800SE y SU3900SE de Hitachi representan un importante paso adelante en microscopía.

Gracias a su capacidad para manipular muestras de mayor tamaño, a sus avanzadas funciones de automatización y a su diseño de fácil manejo, estos microscopios electrónicos de barrido están llamados a convertirse en herramientas esenciales tanto para usuarios industriales como académicos. Mejoran la eficacia y la precisión de la microscopía y, además, preparan a los laboratorios para el futuro, ya que proporcionan la flexibilidad necesaria para adaptarse a la evolución de las demandas de investigación y producción.

Si está interesado en saber más sobre cómo estos nuevos microscopios pueden beneficiar su trabajo, descargue el folleto o solicite una demostración hoy mismo. Descubra cómo los SU3800SE y SU3900SE pueden ayudarle a alcanzar nuevos niveles de precisión y eficacia en su investigación científica.