Añadir a mis favoritos
Ver traducción automática
Esta es una traducción automática. Para ver el texto original en inglés
haga clic aquí
#Tendencias de productos
{{{sourceTextContent.title}}}
Profundidad ultrarrápida que perfila por PP-TOFMS
{{{sourceTextContent.subTitle}}}
Mire nuestro vídeo y descubra una nueva técnica de la caracterización material ejecutada ya en un instrumento muy compacto y disponible en el comercio. Entienda cómo usted puede conseguir en pocos minutos la distribución elemental de la profundidad de cualquier elemento para una amplia gama de materiales. La velocidad del plasma que perfila TOFMS resulta de un plasma de la farfulla de la energía de alta densidad, baja y de la detección total completa ultrarrápida de la cobertura TOFMS.
{{{sourceTextContent.description}}}
La preparación mínima de la muestra juntada sin el ambiente de la transferencia de la muestra de UHV también contribuye a la velocidad del análisis y hace PP-TOFMS una herramienta de uso fácil fácilmente realizable en una variedad de usos científicos y de la ingeniería.
Las capas apenas-depositadas” o “apenas-procesadas” del análisis de PP-TOFMS le dará respuestas rápidas sobre su “o cualquier muestra sólida que usted desee analizar. Proporcionará la información valiosa sobre la distribución de la profundidad de elementos importantes, perfiles de dopantes, la identificación de contaminantes inesperados, y la calidad de interfaces dentro de la escala del nanómetro. Es importante observar que no sólo cualquier elemento puede ser detectado pero la técnica es también “casi igualmente sensible” a todos los elementos, a excepción de H, de C, de N, y de O, puesto que el proceso de la ionización se separa totalmente del proceso de la farfulla. Esto permite un análisis estándar-libre, instantáneo de la semi-cuantificación de su muestra con una gama de concentración atómica que atraviesa órdenes de magnitudes en una sola medida.
PP-TOFMS le ahorrará tiempo en la optimización del proceso de la deposición de la capa y del método de la fabricación para una amplia gama de los usos de los materiales tales como microelectrónicas, photovoltaics, y optoelectrónica.