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Prueba de quemado

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Para el dispositivo Crystal

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Toma de prueba para oscilador de cristal (OCXO)

Dispositivo aceptable：

OX-249(Vectron) , OCO-045G(NAKA&Company), KSPANTB10MEAPBABE(KYOCERA AVX)etc.

Se trata de un zócalo de prueba adecuado para OCXO de tipo DIP

(Oscilador de Cristal Controlado en Horno).

Las patillas del zócalo incorporan componentes de contacto de alta fiabilidad, que garantizan una conductividad estable.

También es compatible con el montaje en placas de circuito impreso multicapa.