
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#Tendencias de productos
Toma de prueba para dispositivos IC
Prueba a nivel de sistema
Toma de medidas a medida para B1506A
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- Compatible con el analizador de dispositivos de potencia Keysight B1506A Capaz de medir las características IV y CV de los dispositivos de potencia
- Diseño y fabricación de zócalos de prueba, placas de circuito impreso y dispositivos ficticios de calibración
- Compatible con diversas formas de dispositivos, incluidos los SMD (dispositivos montados en superficie)
Se trata de una solución para módulos de zócalo montados en el B1506A.
Soporta altas corrientes de Impulso: 400A / DC: 100A.
Con una corriente de fuga minimizada, permite realizar mediciones de gran precisión.
El "B1506A" es un dispositivo diseñado para la medida fácil y altamente precisa de las características de los dispositivos de potencia,
como MOS-FETs e IGBTs. Aunque existen módulos estándar para dispositivos comunes de tipo DIP, como TO-220 y TO-3P, se necesitan módulos de zócalo personalizados para medir dispositivos con otros formatos de encapsulado, como SMD (dispositivos montados en superficie).
Para mediciones que requieren alta tensión o alta resistencia térmica, es necesario considerar cuidadosamente el material del zócalo de prueba y el diseño de la placa de circuito según las condiciones de uso.
Además de los zócalos de prueba, tenemos un historial probado en el diseño de placas de circuitos impresos y dispositivos ficticios de calibración para pruebas ABIERTO/CORTO, lo que nos permite ofrecer soluciones adaptadas a diversos dispositivos.
