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#Tendencias de productos
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Nuevo sistema de medida de effecto hall - Linseis L79/HCS
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El nuevo sistema de medida de effecto hall de L79/HCS de Linseis permite la caracterización de los dispositivos de semiconductor. Los materiales incluyendo Si, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, INP, GaN (el tipo de N y el tipo de P pueden ser medidos), metal acodan, los óxidos, se pueden medir fácilmente. Las medidas de L79/HCS:
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- Concentración de portador
- Resisitivity
- Movilidad
- Conductividad
- Cociente horizontal/vertical de la alfa (de la resistencia)
- Coeficiente de pasillo
- Megnetoresistance
Las ofertas de escritorio rugosas de la disposición:
- Diversos sostenedores de la muestra para las varias geometrías
- Una baja temperatura opcional (LN2) a la versión 250°C
- Una versión da alta temperatura hasta 700°C
- Medida en casi cada clase de atmósfera (nitrógeno, oxígeno, helio, argón, vacío)
- Diversos imanes permanentes y eléctricos proporcionan campos magnéticos fijos o variables hasta varios tessla.
- El software basado en Windows comprensivo proporciona el diagrama de IV y del I-R.