Añadir a mis favoritos
Ver traducción automática
Esta es una traducción automática. Para ver el texto original en inglés
haga clic aquí
#Ferias y eventos
{{{sourceTextContent.title}}}
Vea el finest details en los datos de XRD con 1Der, nuestro más reciente detector de XRD
{{{sourceTextContent.subTitle}}}
Webinar en vivo el 24 de septiembre de 2020
{{{sourceTextContent.description}}}
Viviendo en un entorno digital moderno, nuestra vida y trabajo se basan en la integridad de la información, y cuanto más vemos más comprendemos. La difracción de rayos X ayuda a revelar de forma no destructiva la identidad y la cantidad de materiales. Con la introducción por parte de PANalytical, en 2003, del primer detector 1D de laboratorio, el tiempo de recogida de datos de XRD se ha reducido más de 100 veces de horas a minutos, al tiempo que se ha incrementado significativamente el rendimiento de las mediciones de las muestras o las estadísticas de recuento de datos
Sin embargo, la velocidad es sólo uno de los factores que pueden influir en la calidad de los datos de XRD. Otro factor importante es la relación pico a fondo que podría verse afectada negativamente por los materiales fluorescentes. Por ejemplo, con un tubo de rayos X de Cu, la fluorescencia producida por los elementos de Fe, Co en un mineral puede causar un fondo elevado que cubra los picos de difracción de fase menores y, por lo tanto, dar lugar a resultados de cuantificación inexactos. Clásicamente, el uso de un monocromador de haz difractado puede resolver este problema
Sin embargo, esta solución reduce la intensidad de la difracción y por lo tanto requiere un tiempo de medición más largo. Con el fin de resolver el dilema velocidad vs. calidad de los datos para todos los elementos y con el objetivo de llevar el mejor producto a cada usuario, introducimos una nueva adición a la plataforma Empyrean. Nuestro nuevo detector 1Der XRD está diseñado para llevar la versatilidad y la claridad de los datos al siguiente nivel. En este seminario web, utilizaremos algunos ejemplos para demostrar el rendimiento sin precedentes y los detalles de difracción del detector 1Der, que ahora se pueden realizar en el sistema multipropósito XRD de Empyrean. Ya veremos
1.Datos de múltiples fuentes de rayos X que cubren una gama de aplicaciones de vanguardia de hoy en día
2. ¿Cómo reducir el fondo cuando la energía del fotón fluorescente de la muestra medida (que contiene elementos de Cu o Ni) está muy cerca de la energía característica del fotón de Cu-Kα de ~ 8,04 keV?
3.Cómo un simple interruptor de función nos permite ver los picos monocromáticos sin la influencia de los picos de Cu-Kα2.
Puede registrarse gratuitamente en todos nuestros seminarios web y recibirá automáticamente la versión On-Demand