Nuevo objetivo 0,6X que mejora la topografía de la superficie

Medición de microestructuras y parámetros de forma de gran superficie en una sola operación

Para salvar la distancia entre las inspecciones microscópicas y macroscópicas de superficies, Polytec ha desarrollado el exclusivo objetivo 0,6X para sus perfiladores de superficies. Para el control de calidad de componentes de precisión, ópticos o microsistemas, normalmente son relevantes numerosos parámetros para una calidad y funcionalidad sin concesiones: por ejemplo, la planitud de una superficie de sellado, la altura exacta del paso a una zona adyacente, siempre respetando una rugosidad mínima definida para una lubricación adecuada. Con Autofocus y seguimiento automático del enfoque, el perfilador óptico Micro.View+ también ofrece una torreta automática, ahora con aumentos de 0,6X (hasta 111X), ampliando el campo de visión (FOV) único a 15,53 x 11,71 mm². Esto significa que no sólo captura la rugosidad, los detalles estructurales y la microtopografía con una resolución de subnm, sino que también mide la planitud en superficies más grandes de forma más rápida y eficaz. Con una distancia de trabajo de 9,2 mm, ofrece una distancia entre puntos de medición de 9,76 µm. Póngase en contacto con Polytec para obtener una viabilidad gratuita.