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EDXRF funciona sin la preparación de la muestra

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¿JEOL? s JSX-1000S ElementEye es una solución fácil de utilizar, elegante para el análisis elemental de la alto-sensibilidad en un espectrómetro del benchtop EDXRF

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¿Analiza al comandante para remontar componentes en la mayoría de los tipos de la muestra? ¿sólidos, polvos y líquidos? con poco o nada de preparación de la muestra. La solución del benchtop complementa SEM, EPMA, RMN y análisis de la espectrometría total, proporcionando resultados del análisis cualitativo y cuantitativo de la alto-sensibilidad en minutos. Un método thin-film del punto de congelación está opcionalmente disponible para la medida no destructiva del espesor del film en muestras revestidas. el análisis de la Alto-sensibilidad se puede realizar a través de la gama entera de la energía usando un máximo de nueve tipos de filtros y de una unidad del vacío del compartimiento de la muestra. Las características adicionales incluyen un cambiador auto opcional de la muestra de 12 posiciones; operación de la pantalla táctil; recetas previas para los usos de la solución estándar, el SDD de la alto-sensibilidad y el sistema óptico de la corto-trayectoria para el alto análisis del rendimiento de procesamiento.