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Medición y corrección de la uniformidad de las pantallas MicroLED

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Métodos para medir la luminancia y la cromaticidad de los subpíxeles para la corrección (Demura) y el control de calidad

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Los microLED siguen demostrando sus ventajas de rendimiento para las pantallas, abriendo paso a una nueva generación de tecnología de retroiluminación e iluminación directa. Estos elementos inorgánicos emisivos ofrecen muchas ventajas respecto a otras tecnologías de visualización, como un alto brillo y contraste, una amplia gama de colores, longevidad y alta densidad de píxeles. Sin embargo, hay que superar los retos asociados a la fabricación de paneles microLED de alta calidad antes de lograr una producción en masa y una comercialización viables

Como elementos emisivos individuales, los microLED suelen presentar variaciones de luminancia y color a nivel de píxel. Estas variaciones exigen que cada microLED se mida y ajuste individualmente para garantizar la uniformidad visual en toda la pantalla. Por tanto, un sistema de medición y corrección para la fabricación de microLED debe ser capaz de cuantificar con precisión la salida de cada elemento emisivo (el LED individual o el subpíxel), con tiempos de espera muy bajos para corregir la gran cantidad de emisores en una sola pantalla y para soportar procesos de producción de bajo desperdicio y gran volumen