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Instrumento PRECISE: una nueva generación de solución de prueba I-V de dispositivos de alta velocidad de semiconductores
Investigación sin fin
Con el rápido desarrollo y la aplicación innovadora de los nuevos materiales semiconductores III-V, cómo lograr fácilmente una medición ultrarrápida de las características del nitruro de galio (GaN), el arseniuro de galio (GaAs) y otros semiconductores compuestos, como la medición de CC, la fuente I-V y la operación de medición. ? ¿Cómo puedo evitar el autocalentamiento del dispositivo usando pulsos estrechos y/o pulsos de ciclo de trabajo bajo en lugar de señales de CC? ¿Cómo cumplir con los requisitos de la aplicación que requieren una salida de voltaje ultrarrápida y una medición de corriente de alta sensibilidad simultánea?
La respuesta dada por la solución de prueba I-V de dispositivos de alta velocidad de semiconductores de nivel ns lanzada por PRECISE Instruments es: ¡totalmente satisfecho!
Diseño de tarjeta enchufable + 1CH/tarjeta enchufable + hasta 10 canales, instrumento PRECISE fuente de voltaje constante de pulso de nueva generación serie CP5xx
