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Principio de prueba de la fuente de corriente de impulsos estrechos de la serie PL

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Diagrama de prueba LIV

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Las fuentes de corriente de pulso estrecho de la serie PL de PRECISE pueden aplicarse a VCSEL y otros escenarios de prueba que requieren excitación de pulso estrecho.

Los dispositivos de la serie PL tienen dos canales:

①, fuente de excitación de pulso de corriente constante, y puede medir simultáneamente la tensión en ambos extremos del dispositivo bajo prueba;

②, canal de medida de corriente de pulsos, especialmente indicado para medir potencia óptica pulsada mediante DP externa;

Los equipos de la serie PL pueden emitir las siguientes formas de onda: se puede programar la amplitud, el valor de paso, el número de impulsos, etc. de la forma de onda.

①, corriente continua constante;

②, corriente continua de barrido;

③, corriente continua pulsada;

④, corriente de barrido por impulsos;

Utilizar el sistema de prueba LIV de pulso estrecho de la serie PL de PRECISE para probar el diagrama de bloques como el anterior: consta principalmente de equipos de la serie PL, cables de conexión dedicados, tableros de prueba, esferas integradoras, láseres a probar y PD receptores de luz. Los láseres VCSEL suelen tener una gran potencia óptica de salida, mientras que las DP tienen una potencia de recepción baja, por lo que se necesita un integrador para atenuar la potencia óptica. Al mismo tiempo, las características de reflexión de la esfera integradora hacen que el sistema láser no sea muy sensible al ángulo de incidencia de la luz láser.

El equipo emite las siguientes señales LD+, LD-, S+, S-, PD+, PD-, entre las cuales LD+, LD- son señales de excitación de salida de la fuente de corriente constante, S+, S- son señales de medida de tensión del dispositivo bajo prueba, PD+, PD- es la señal de medida de DP externa.

Con el fin de garantizar la calidad de la señal de salida, los dispositivos de la serie PL necesitan utilizar cables de conexión especiales personalizados por Proceeds. Al mismo tiempo, la conexión de la placa de prueba al dispositivo bajo prueba debe reducirse al mínimo. Lo mejor es soldar el dispositivo directamente a la placa de prueba o utilizar un zócalo.

Para garantizar la precisión de la medición de la tensión del dispositivo bajo prueba, S+ y S- deben cortocircuitarse a LD+ y LD- en los pines del dispositivo bajo prueba. Por favor, asegúrese de conectar S+ y S- a los pines del dispositivo bajo prueba, y no cortocircuite directamente Feel free en la placa de prueba.