PRECISE Instruments presenta una gama completa de equipos de prueba de rendimiento eléctrico de semiconductores en la Feria Electrónica de Múnich Shanghái 2023

El 11 de julio de 2023, Electronica China abrió sus puertas en el Centro Nacional de Convenciones y Exposiciones de Shanghái.

El tema de esta exposición es "Integrar la innovación, liderar el futuro de manera inteligente", reuniendo semiconductores, dispositivos pasivos, conexión de red inteligente y vehículos de nueva energía, sensores, conectores, interruptores, mazos de cables y cables, fuentes de alimentación, prueba y medición, impresos placas de circuito, servicios de fabricación electrónica, fabricación avanzada y otras empresas, para crear una plataforma de visualización profesional en la parte superior e inferior de la industria, desde el diseño del producto hasta la implementación de la aplicación, con innovación La tecnología promueve el desarrollo de la industria electrónica de China.

PRECISE Instruments está comprometido con la localización de equipos de prueba de semiconductores de alta gama. Trajo una gama completa de productos principales de prueba de rendimiento eléctrico de semiconductores y soluciones de prueba de campo de semiconductores desde materiales, obleas hasta dispositivos a esta exposición, atrayendo a muchos ingenieros e invitados de la industria para experimentar y comunicarse.

La prueba y la medición son un medio eficaz de control de calidad en toda la industria electrónica. Según el proceso de producción de semiconductores, el control de calidad se divide en inspección inicial, inspección intermedia e inspección final. La inspección frontal, también conocida como inspección de procesos, está orientada a la fabricación de obleas. Comprueba si los parámetros de procesamiento del producto cumplen con los requisitos de diseño o tienen defectos que afectan el rendimiento después de los procesos de fabricación de obleas, como litografía, grabado, deposición de película, limpieza y CMP. pruebas de rendimiento; las pruebas intermedias están orientadas hacia el empaquetado avanzado, utilizando métodos sin contacto, como la óptica, para controlar la calidad de los procesos de fabricación de obleas, como estructuras de cableado, protuberancias y vías de silicio; Las pruebas de seguimiento son principalmente para pruebas de obleas (CP, prueba de circuito) y pruebas de productos terminados (FT, prueba final), para verificar si el rendimiento del chip cumple con los requisitos, sesgado hacia las pruebas de rendimiento eléctrico.

Centrándose en la prueba de rendimiento eléctrico de los semiconductores, PRECISE Instruments mostró cinco categorías de unidad de medida de fuente (SMU) de desarrollo propio, fuente de corriente constante de pulso (FIMV), fuente de alimentación de alto voltaje (FIMV, FVMI), fuente de voltaje constante de pulso y adquisición de datos. tarjeta. Cubriendo medidor de fuente de CC, medidor de fuente de pulso, fuente de corriente de pulso angosto, medidor de fuente de enchufe integrado, fuente de corriente ultra grande de alta precisión, fuente de alimentación de alto voltaje de alta precisión, tarjeta de adquisición de datos y otros instrumentos de prueba de rendimiento eléctrico doméstico, su estabilidad y confiabilidad, la consistencia ha sido ampliamente verificada por el mercado.