Publicación el 1/9/2021
Nueva solución de medición óptica por infrarrojos para el análisis de la respuesta dinámica de las microestructuras tapadas
Una caracterización exhaustiva de la dinámica y las propiedades de respuesta mecánica de los dispositivos de microestructura es crucial para el diseño y el desarrollo, la resolución de problemas y la validación FEM de los sistemas microelectromecánicos (MEMS). Por ello, la serie de analizadores de microsistemas MSA de Polytec ofrece capacidades de prueba ópticas rápidas,...