{{{sourceTextContent.title}}}

Exploración de las ventajas de los SEM de emisión de campo SU8600 y SU8700 de Hitachi

{{{sourceTextContent.subTitle}}}

Obtenga información sobre los últimos SEM de emisión de campo de Hitachi y las numerosas ventajas que ofrecen a los profesionales de la ciencia y la ingeniería con el especialista en aplicaciones Roland.

{{{sourceTextContent.description}}}

En las últimas décadas, el microscopio electrónico de barrido por emisión de campo (FE-SEM) se ha convertido en el eje de la ciencia analítica, proporcionando a los profesionales de casi todos los campos científicos y de ingeniería varias ventajas sobre los microscopios electrónicos de barrido convencionales y permitiéndoles comprender una plétora de procesos complejos y tecnologías emergentes. Hoy hablamos con Roland Schmidt, especialista principal en aplicaciones, sobre esta innovadora tecnología y la gama de microscopios FE-SEM de Hitachi.

¿Qué es un microscopio electrónico de barrido por emisión de campo?

Los tipos más comunes de fuentes de electrones para un microscopio electrónico de barrido (SEM) son las fuentes de tungsteno o termoiónicas, Schottky y de emisión de campo frío (CFE). Así, un SEM de Emisión de Campo es un SEM equipado con un cañón FE. En la actualidad, estos microscopios ofrecen las mejores prestaciones en términos de resolución, estrategia de detección, capacidades analíticas y estabilidad del haz.

¿Ofrece Hitachi microscopios de barrido de emisión de campo frío y de emisión de campo Schottky?

Así es Y que yo sepa, Hitachi es la única empresa del mercado que ofrece microscopios electrónicos de barrido con emisión de campo frío y emisión de campo Schottky.

¿Qué ventajas pueden esperar los clientes al utilizar la gama de microscopios SU8600?

El SU8600 es el último SEM de emisión de campo frío de Hitachi, que combina los modos de imagen más avanzados con tres detectores en la lente y detectores EDX que pueden alcanzar una resolución lateral de hasta 10 nm.

Todos los usuarios del SU8600 pueden beneficiarse de la profunda experiencia de Hitachi en la fabricación de FE-SEM desde el lanzamiento del primer CFE-SEM en 1972. En 2012, Hitachi recibió el prestigioso premio IEEE por sus continuas innovaciones en este campo con más de 9000 unidades instaladas.

Qué beneficios pueden obtener el mundo académico y la industria con el uso de la serie de microscopios S8600?

En la industria y el mundo académico, los costes de mantenimiento y la disponibilidad de los equipos son preocupaciones importantes. Debido a la vida útil (teórica) ilimitada de una fuente de emisión de campo frío, el tiempo de inactividad debido al cambio de puntas en un SU8600 es mínimo. De hecho, muchos usuarios de SEM de CFE no han cambiado su emisor después de más de quince años. A la larga, eso sí que merece la pena.

También vemos que muchos clientes utilizan el SU8600 como microscopio electrónico de transmisión de 30 kV, combinando las ventajas de un SEM, especialmente como detector a través de la lente, con las de un TEM.

¿Cómo se compara la serie SU8600 con otros competidores?

En términos de ventajas como el excelente rendimiento de imagen, la mayor vida útil de la punta y las corrientes de emisión más bajas a partir de 1 µA, no existe ningún modelo competitivo en el mercado actual.

Sin embargo, muchas aplicaciones pueden tener necesidades específicas. Éstas podrían incluir, por ejemplo, corrientes más altas, una puerta de la cámara extraíble o un modo de presión variable para adaptarse a un rango de muestras más amplio y potencialmente desconocido. Para algunas aplicaciones, un Emisor Schottky puede ser más conveniente.

Me complace que Hitachi, con el lanzamiento de los modelos SU8600 y SU8700, pueda ofrecer ahora dos FE-SEM con el mismo funcionamiento, software y funciones de automatización, pero con ópticas electrónicas muy diferentes, cada una con sus propias ventajas.

Como experto en microscopía electrónica, ¿cuál es su característica favorita y por qué?

Como ya he mencionado, nuestros microscopios electrónicos de barrido son tan fáciles de usar como los de transmisión. Eso me gusta, probablemente porque empecé con la microscopía electrónica durante mi doctorado en un TEM de 300 kV más sofisticado. Combinar el SEM con las funciones del TEM abre nuevas perspectivas en muchos productos a nanoescala como polvos, fibras, nanotubos de carbono, etc.

Pasando al SU8700, ¿qué ventajas pueden esperar los clientes?

En nuestra línea de productos FE-SEM, el SU8700 y el SU7000 son nuestros todoterreno. Ofrecen la máxima flexibilidad en cuanto a modos de captura de imágenes y vacío, que requieren cámaras con múltiples puertos para accesorios y corrientes estables de hasta 200 nA.

¿Qué sectores e industrias pueden beneficiarse del uso de la serie de microscopios SU8700?

Todos los sectores e industrias en los que se requiera la máxima flexibilidad para resolver los problemas de análisis de fallos y control de procesos en poco tiempo. Por ejemplo, en la industria química, donde los ciclos de producto son más bien cortos y los materiales cambian con mayor frecuencia, y en sectores como la industria de semiconductores.

¿Qué aconseja a las empresas que no saben por cuál de las dos tecnologías deberían decidirse?

Póngase en contacto con nosotros para enviarnos una muestra. En función de sus requisitos y necesidades, podemos recomendarle cuál de nuestra amplia gama de microscopios sería el más adecuado.

Por último, ¿tiene algún "consejo del mes"?

Para fijar muestras a granel, no utilice cintas de carbono de doble cara para obtener imágenes de alta resolución por encima de 20.000 aumentos.