Publicación el 11/11/2024
El microscopio electrónico de barrido CIQTEK facilita la mejora de la calidad del "súper nanorecubrimiento"
Presentamos CIQTEK filamento de tungsteno Senlatado Eelectrón Microscopio SEM3200 proporciona a los investigadores imágenes claras a nanoescala, lo que les permite examinar visualmente la microestructura y la morfología de las capas de recubrimiento. Además, el espectrómetro de dispersión de energía (EDS) equipado permite un análisis preciso de la composición del materia...